ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ
МАГНИТОПОРОШКОВЫЙ МЕТОД
ГОСТ 21105-87
ГОССТАНДАРТ РОССИИ
Москва
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ
Магнитопорошковый метод
Nondestructivetesting.
Method of magnetic particle testing
|
ГОСТ
21105-87
|
Дата введения 01.01.88
Настоящий стандарт распространяется на магнитопорошковый метод неразрушающего контроля деталей, изделий и полуфабрикатов из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40 (далее - объекты контроля).
Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их определения по ГОСТ 24450-80.
Пояснения терминов, применяемых в настоящем стандарте, приведены в приложении 1.
1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения частиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагниченных объектах контроля.
Наличие и протяженность индикаторных рисунков, вызнанных полями рассеяния дефектов, можно регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности: волосовин, трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, флокенов, закатов, надрывов и т.п.
1.3. Магнитопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материалов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намагничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых дефектов.
1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чувствительности, приведенные в табл. 1.
Таблица 1
Условный уровень чувствительности
|
Минимальная ширина раскрытия условного дефекта, мкм
|
Минимальная протяженность условного дефекта, мм
|
А
|
2,0
|
0,5
|
Б
|
10,0
|
В
|
25,0
|
Примечания:
1. Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой поверхности Ra£2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В - при Ra£10 мкм.
2. При выявлении подповерхностных дефектов, а также при Ra>10 мкм чувствительность метода понижается и условный уровень чувствительности не нормируется.
3. При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толщины покрытия чувствительность метода понижается.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102-81 и ГОСТ 3.1502-85, в которых указываются: наименование изделия (узла), наименование и номер детали, эскиз детали с указанием габаритных размеров, зона контроля, способ контроля, вид и схема намагничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля, средства контроля (аппаратура, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.
2. ТРЕБОВАНИЯ К АППАРАТУРЕ
2.1. При контроле магнитопорошковым методом применяют стационарные, передвижные и переносные дефектоскопы по нормативно-технической документации.
Допускается применять специализированные дефектоскопы, предназначенные для контроля конкретных изделий.
2.2. В зависимости от назначения дефектоскопы включают в себя следующие функциональные устройства:
блок питания;
блок формирования намагничивающего тока;
намагничивающие устройства;
устройство для размагничивания;
устройство для нанесения дефектоскопических материалов;
блок автоматического управления технологическими операциями контроля;
исполнительные устройства для осуществления автоматических операций контроля;
приборы и устройства для контроля качества дефектоскопических материалов и технологических процессов;
устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
2.3. Дефектоскопы должны быть снабжены измерителями намагничивающего тока. Погрешность измерений не должна превышать 10%.
2.4. Дефектоскопы общего назначения должны обеспечивать возможность размагничивания объектов контроля.
2.5. Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществляется переменным, выпрямленным или импульсным токами, при контроле способом остаточной намагниченности должны обеспечивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.
2.6. В дефектоскопах при контроле способом остаточной намагниченности не допускается использовать в качестве намагничивающих устройств электромагниты постоянного тока, а также другие устройства, в которых снижение магнитного потока от максимального значения до нуля при намагничивании происходит в течение времени, превышающем 5 мс.
2.7. Устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов включают в себя: УФ-облучатели, оптические устройства (лупы, бинокулярные, стереоскопические микроскопы; зеркала; эндоскопы), а также автоматизированные системы обработки изображений.
2.8. Требования к специализированным дефектоскопам устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль конкретных изделий.
3. ТРЕБОВАНИЯ К ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИМ МАТЕРИАЛАМ
3.1. При магнитопорошковом методе контроля применяют магнитные дефектоскопические материалы: порошки, суспензии и магнитогуммированные пасты.
3.2. В зависимости от состояния контролируемой поверхности (ее цвета и шероховатости), магнитных свойств материала и требуемой чувствительности контроля используют магнитные порошки, имеющие естественную окраску, а также цветные и люминесцентные.
3.3. Основные свойства магнитных порошков, влияющих на выявляемость дефектов: дисперсность, магнитные и оптические характеристики.
Качество магнитных порошков оценивают по методикам, приведенным в отраслевой нормативно-технической документации на их поставку.
3.4. Свойства магнитной суспензии, влияющие на выявляемость дефектов, определяются составом, концентрацией и свойствами отдельных ее компонентов.
3.4.1. Концентрация магнитного порошка в суспензии должна составлять (25±5) г/л, а люминесцентного порошка - (4±1) г/л.
При контроле резьбы и объектов с использованием магнитных полей напряженностью ³100 А/см концентрацию магнитного порошка уменьшают до 5 г/л.
В технически обоснованных случаях допускается устанавливать более высокие значения концентрации магнитного порошка в суспензии.
3.4.2. Вязкость дисперсионной среды суспензии не должна превышать 36×10-6 м2/с (36 сСт) при температуре контроля. При вязкости носителя выше 10×10-6 м2/с (10 сСт) в технической документации должно быть указано время стекания основной массы суспензии, после которого допустим осмотр изделия.
3.4.3. Дисперсионная среда суспензий с люминесцентными магнитными порошками не должна ухудшать светоколористических свойств порошка, а ее собственная люминесценция не должна искажать результаты контроля.
3.5. Магнитная суспензия не должна вызывать коррозии контролируемой поверхности.
3.6. Магнитогуммированная паста представляет собой смесь магнитного порошка и затвердевающих органических полимерных веществ.
3.7. Качество готовых дефектоскопических материалов определяют перед проведением контроля на стандартных образцах предприятий, аттестованных в установленном порядке.
4. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ КОНТРОЛЯ
Комментарии (1)
Чтобы оставить комментарий вам необходимо авторизоваться